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写真 設備名称 設置機関 研究分野 仕様
高分子ナノ薄膜の膜厚測定(簡易原子間力顕微鏡) 名古屋大学 分子・物質合成 SII製、NPX2100 大きな面積範囲(800μm四方)を測定できる原子間力顕微鏡(コンタクト・タッピング) 光学顕微鏡観察下の任意の位置の測定が可...
薄膜表面観察(原子間力顕微鏡) 名古屋大学 分子・物質合成 Asylum製、MFP-3D 高性能AFM (分解能: 0.2nm 垂直: 0.01nm)  コンタクト・タッピング (要相談:摩擦力、粘弾性モード) 温度...
原子間力顕微鏡(AFM) 名古屋大学 分子・物質合成 Veeco Instruments製、Nanoscope IIIa MMAFM型マルチモードSPMユニット サンプルサイズ:15mmφ×6mm厚(最大) 観察環境:大気中(標準機能)&nbs...
接触角計 名古屋大学 分子・物質合成 協和界面化学製、DM-501 最大試料寸法:150(W)×150(D)×35(T)mm 最大試料重量:400g 使用環境温度:10~35℃ カメラ・ディスペンサ上下...
蛍光X線分析装置 名古屋大学 分子・物質合成 X線を試料に照射した際に発生する蛍光X線エネルギーを測定することによって試料中に存在するNa~Uまでの元素を分析、定量することができます。 ...