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写真 設備名称 設置機関 研究分野 仕様
接触式膜厚測定器 大阪大学 分子・物質合成 BRUKERDektak XT-A 垂直測定レンジ:1 mm 膜厚測定再現性(1σ):5Å 走査距離上限:55mm 触針圧:1mg~15mg ...
イオン化エネルギー測定装置 大阪大学 分子・物質合成 分光計器株式会社BIP-KV202GD  エネルギー走査範囲:3.1 eV~9.0 eV  真空度:1E-2 Pa(ガス置換可能)  D2ランプ/Xeランプ手動切り...
レーザーラマン顕微鏡 大阪大学 分子・物質合成 ナノフォトン株式会社 RAMANtouch VIS-NIR レーザー、出力:532 nm, 500 mW/ 785 nm, 500mW) 空間分解能:X;500 nm,Y;350 nm,Z; 1000 nm 回折...