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写真 設備名称 設置機関 研究分野 仕様
動的二次イオン質量分析測定装置 九州大学 分子・物質合成 Analysetechnik GmbH社製ATOMIKA SIMS 4000四重極型一次イオンビームソース:酸素とアルゴン加速電圧:3 k - 15 kV測定面積:250 μ...