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8件中、1件目~8件目を表示しています。

写真 設備名称 設置機関 研究分野 仕様
ゼータ電位/粒径測定システム 九州大学 分子・物質合成 大塚電子ELS-Z基板表面ゼータ電位測定可能測定濃度範囲 0.001% ~ 40% *1 ゼータ電位 -200 ~ 200 mV 電気移動度 -20×10-4...
ゼータサイザーゼータ電位・粒子径・分子量測定装置 九州大学 分子・物質合成 マルバーン社製Nano ZS ゼータ電位 3nm~10mm...
動的光散乱測定装置  九州大学 分子・物質合成 Malvern社製  Zetasizer Nano ZS粒径分布ゼータポテンシャル分子量測定...
レーザーゼータ電位計 物質・材料研究機構 分子・物質合成 大塚電子製:ELSZ1000Z ゼータ電位測定範囲:-200~200mV 光学系:レーザードップラー法 光源:高出力・高安定化半導体レーザー セル:標準セル、...
パーティクルサイズアナライザー 物質・材料研究機構 分子・物質合成 島津製作所製:パーティクルサイズアナライザー SALD-2100  測定範囲:0.03μm~1000μm 光源:半導体レーザ(波長680nm) 湿式測定、乾式測...
動的光散乱(DLS) 名古屋大学 分子・物質合成 Malvern製、Zetasizer Nano ZS 粒径分布、ゼータポテンシャル、分子量測定 測定可能粒径:0.6nm-6µm、ゼータ電位:5nm-10µm 分子量:1000-2&ti...
粒径測定装置 ゼータ電位・粒径測定システム(ゼータ電位、粒径・粒度分布) 名古屋大学 分子・物質合成 大塚電子製、型番:021808、型式:ELSZ-2 測定濃度範囲 :0.001 % ~ 10 % ゼータ電位 :-200 ~ 200 mV 電気移動度 :-20×10-4&...
ナノ粒子解析装置 (ゼーターサイザー) 大阪大学 分子・物質合成 シスメックス株式会社NANO-ZS 【特徴】粉体試料の粒子径や、コロイド溶液・ナノ粒子のゼータ電位が測定可能な分析装置です。希釈されたサンプル...