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研究機関千歳科学技術大学
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写真 設備名称 設置機関 研究分野 仕様
表面物性測定装置群 千歳科学技術大学 分子・物質合成 1. 非接触光学式薄膜計測システム    Scientific Computing International 社製 Film Tek4000    膜厚測定範囲: 3...