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4件中、1件目~4件目を表示しています。

写真 設備名称 設置機関 研究分野 仕様
軽元素対応型超高分解能走査透過型電子顕微鏡(Cs-STEM)JEM-ARM200F Cold FE(日本電子) 東京大学 微細構造解析 □ 主な特長 照射系球面収差補正装置を標準搭載し、機械的・電気的安定度を極限まで高めることで、世界最高の走査透過像(STEM-HAADF)分解能&n...
超高分解能透過型電子顕微鏡(Cs-HRTEM)JEM-ARM200F Thermal FE(日本電子) 東京大学 微細構造解析 □ 主な特長 結像系球面収差補正装置を搭載することにより、透過顕微鏡像(TEM)の分解能が0.11nmまで向上 高圧、対物電流の変動を従来機の50...
環境対応型超高分解能電子顕微鏡 JEM-ARM200F Cold FE(JEOL) 東京大学 微細構造解析 □ 主な仕様 加速電圧:200kV以上 分解能:TEM格子像 0.10nmTEM粒子像 0.23nmSTEM明視野格子像 0.136nmSTEM暗視野格子像 0.10nm 倍率:TEM像&nb...
原子分解能元素マッピング構造解析装置 JEM-ARM200F Thermal FE(JEOL) 東京大学 微細構造解析 □ 主な仕様 分解能:TEM格子像 0.10nmTEM粒子像 0.19nmSTEM明視野格子像 0.136nmSTEM暗視野格子像 0.082nm 倍率:TEM像 50~2,000,000倍STEM...