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写真 設備名称 設置機関 研究分野 仕様
走査型プローブ顕微鏡 L-trace II 東京大学 微細構造解析 分解能: 面内0.5nm  垂直0.05nm 試料サイズ: 150mm  厚さ22mm 低いZ方向直進エラー 高いS/N比 熱源抑制効果による低いドリフト 大きな試料サ...