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写真 設備名称 設置機関 研究分野 仕様
κ(カッパ)型X線回折計 日本原子力研究開発機構 微細構造解析 設置場所:BL14B1(量子科学技術研究開発機構)光エネルギー:5~90 keVエネルギー分解能:~10-4~10-6特徴:通常の6軸の他、全系の水平面内回転軸を...
表面化学実験ステーション 日本原子力研究開発機構 微細構造解析 設置場所:BL23SU(日本原子力研究開発機構)光エネルギー:0.37~1.8 keV特徴:金属および半導体表面での吸着・脱離、酸化・還元等の化学反応のダイ...
軟X線光電子分光装置 日本原子力研究開発機構 微細構造解析 設置場所:BL23SU(日本原子力研究開発機構)光エネルギー:0.37~1.8 keVエネルギー分解能:E/ΔE 104特徴:角度分解光電子分光(ARPES)測定も可能...
軟X線磁気円二色性測定装置 日本原子力研究開発機構 微細構造解析 設置場所:BL23SU(日本原子力研究開発機構)光エネルギー:0.37~1.8 keV特徴:軟X線領域のXMCDから、元素選択的に磁気モーメントに関する情報を得る...
XAFS測定装置 日本原子力研究開発機構 微細構造解析 設置場所:BL11XU(量子科学技術研究開発機構)光エネルギー:6~70 keV特徴:アンジュレータからの高輝度・高エネルギーX線を利用したXAFS測定が可...
エネルギー分散型XAFS装置 日本原子力研究開発機構 微細構造解析 設置場所:BL14B1(量子科学技術研究開発機構)計測可能な吸収端エネルギー:5~90 keV特徴:二結晶分光器を用いた通常型X線吸収分光(XAFS)測定に...
陽電子プローブマイクロアナライザー(PPMA) 産業技術総合研究所 微細構造解析 産総研自主開発:電子加速器(リニアック)で陽電子マイクロビームを作り、対象物中の陽電子寿命のマッピング測定を行う陽電子走査型顕微鏡。...
超伝導蛍光収量X線吸収微細構造分析装置(SC-XAFS) 産業技術総合研究所 微細構造解析 産総研自主開発:エネルギー分散超伝導検出器を搭載し、母材中の微量軽元素や重い元素のL, M線のX線吸収微細構造測定により、特定の微量元素の...
リアル表面プローブ顕微鏡1(RSPM)(JSPM5400他、改造) 産業技術総合研究所 微細構造解析 ・JEOL社製JSPM5400 AFM探針形状評価によるイメージ補正 試料サイズ10mm角以内(ウエハー測定は対応可能) 真空対応 電気測定も限定的に可能 画像...
極端紫外光光電子分光装置(EUPS) 産業技術総合研究所 微細構造解析 産総研で基本原理を考案し装置化した、世界で唯一の表面分析装置分析法としての特長ーー物性を決める物理量が評価できる。 ①深さ分解能0.5nm...
ナノ秒可視・近赤外蛍光寿命計測装置(VITA) 産業技術総合研究所 微細構造解析 産総研自主開発:ナノ秒からマイクロ秒のレンジで蛍光寿命を測定する装置。液体、溶液、結晶、フィルムなどの発光スペクトルと減衰挙動により...
ナノ秒可視・近赤外過渡吸収分光装置(VITA) 産業技術総合研究所 微細構造解析 産総研自主開発:サブナノ秒からサブマイクロ秒のレンジでポンププローブ過渡吸収を測定する装置。液体、溶液、結晶、フィルムなどのレーザー...
ピコ秒可視・近赤外蛍光寿命計測装置(VITA) 産業技術総合研究所 微細構造解析 産総研自主開発:ピコ秒からマイクロ秒のレンジで蛍光寿命を測定する装置。液体、溶液、結晶、フィルムなどの発光スペクトルと減衰挙動により...
リアル表面プローブ顕微鏡(RSPM)2(SII、RIBM他、改造、付帯装置) 産業技術総合研究所 微細構造解析 日立ハイテクサイエンス社製E-SWEEP、S-Image、RIBM社 Nanoexploer AFM探針形状評価によるイメージ補正 溶液中での高速リアルタイムイメージング(毎秒10...
固体NMR装置(600MHz)(SSNMR) 産業技術総合研究所 微細構造解析 本NMR装置は、固体試料を対象とし、局所構造およびダイナミクスを原子・分子レベルで測定します。有機材料、無機材料(セラミックス、無機ガラ...
固体NMR装置(200MHz)(SSNMR) 産業技術総合研究所 微細構造解析 本装置は、固体試料を対象とし、局所構造およびダイナミクスを原子・分子レベルで測定します。有機材料、無機材料(セラミックス、無機ガラス...
固体NMR装置(20MHz)(SSNMR) 産業技術総合研究所 微細構造解析 本NMR装置は、プロトン(軽水素)専用のNMR装置です。プロトンのダイナミクスを原子・分子レベルで測定します。 磁場強度: 0.47テスラ(1H共...
ピコ秒可視・近赤外過渡吸収分光装置(VITA) 産業技術総合研究所 微細構造解析 産総研自主開発:0.2 ピコ秒からナノ秒のレンジでポンププローブ過渡吸収を測定する装置。液体、溶液、結晶、フィルムなどのレーザー過渡吸...
超伝導蛍光X線検出器付走査型電子顕微鏡(SC-SEM) 産業技術総合研究所 微細構造解析 高感度、高分解能の超伝導検出器を搭載した、蛍光X線検出器付走査型電子顕微鏡です。電子線で試料上を走査する際に放出される蛍光X線を測定する...
電界放射型走査型電子顕微鏡 北海道大学 微細構造解析 日本電子製JSM-6500F      加速電圧:1kV~30kV    二次電子検出器装備    分析機能:EDS, EBSD...

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