文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム共用設備利用案内サイトへようこそ! 研究開発に必要な最先端の装置群を日本全国の研究機関から選べます.

研究分野から探す

プラットフォームから探す

研究機関から探す

関連リンク

このサイトについて

検索条件

大分類 
中分類 
事業
地域
研究機関
キーワード

検索結果一覧

1179件中、121件目~140件目を表示しています。

[1]      «      2   |   3   |   4   |   5   |   6   |   7   |   8   |   9   |   10   |   11   |   12      »      [59]

写真 設備名称 設置機関 研究分野 仕様
ピックアップシステム 物質・材料研究機構 微細構造解析 FIB加工試料のピックアップ 大気中でのサンプリング, ガラスプローブ  ...
精密イオン研磨装置(PIPS) 物質・材料研究機構 微細構造解析 ガタン社製695PIPS 精密イオン研磨装置。イオンビームエネルギー0.1~8keV試料冷却が可能。...
試料自動交換システム付放射光硬X線光電子分光装置 物質・材料研究機構 微細構造解析 固体薄膜試料の電子状態を調べるための光電子分光スペクトルをSPring-8の高輝度放射光X線を用いて測定することができます。高分解能X線分光器と高...
反応科学超高圧走査透過電子顕微鏡 名古屋大学 微細構造解析 日本電子製  JEM 1000K RS    加速電圧: 1000, 800, 600, 400kV    高真空中と共に0.13気圧までのガス...
電界放出走査透過電子顕微鏡 名古屋大学 微細構造解析 日本電子製EM-10000BU    照射レンズ系、結像レンズ系のそれぞれに収差補正機能を搭載      加速電圧: 200,80kV&n...
電界放出透過電子顕微鏡 名古屋大学 微細構造解析 日立製HF-2000 加速電圧: 200kV 冷陰極電界放出電子銃 電子線ホログラフィー ローレンツ顕微鏡法 磁気シールドレンズを用いると磁性材料を...
電子分光走査透過電子顕微鏡 名古屋大学 微細構造解析 日本電子製JEM2100M 加速電圧: 200kV EELS, 波長分散X線分光器(WDX) カソードルミネッセンス(CL) 100K-1000Kの温度範囲で計測可 エネルギー...
集束イオンビーム加工機 名古屋大学 微細構造解析 日立製FB-2100 加速電圧: 40kV マイクロサンプリング、CAD機能 Focused ion beam sample preparation system with both a bulk stage and a side-entry stage for TEM holder. A ...
試料作製装置群 名古屋大学 微細構造解析 切断、機械研磨、化学研磨、FIB用サンプル加工等、無機材料系試料作製のための各種装置...
高分解能分析電子顕微鏡 名古屋大学 微細構造解析 日本電子製  JEM-2010F 加速電圧:80/120/160/200kV 分解能  TEM:0.19nm 元素分析:EDX Conventional analytical STEM (Schottky-type FEG, accelerating voltage up...
走査電子顕微鏡 名古屋大学 微細構造解析 FEI製  Quanta200FEG 加速電圧:0.2~30kV 二次電子像分解能:2nm 元素分析:EDX 加熱ステージ:室温~1000℃ マイクロマニピュレータ:2基搭載 ...
アルゴンイオン研磨装置 名古屋大学 微細構造解析 Gatan製:PIPS IIアルゴンイオン研磨装置 ・イオン銃:低エネルギー集束電極ペニングイオン銃 2式 ・イオンエネルギー:100eV~8keV ・試料サイズ:3mm...
高分解能電子状態計測走査透過型電子顕微鏡 名古屋大学 微細構造解析 日本電子製JEM-ARM200(Cold) 照射レンズ系に収差補正機能を搭載   加速電圧: 200,80kV TEM, STEM, EDS, EELS  Ultra-high resolution d...
高速加工観察分析装置 (FIB-SEM) 名古屋大学 微細構造解析 日立ハイテクサイエンス製 MI-4000L 加速電圧:30kV (FIB, SEM) マイクロサンプリング機能 FE-SEM、EDS およびEBSD機能 FIB-SEM with orthogon...
超高圧電子顕微鏡 大阪大学 微細構造解析 日立製超高圧電子顕微鏡H-3000 加速電圧:3000kV ホルダー:標準(1軸)、2軸傾斜、加熱、冷却(液体He, 液体N2)、トモグラフィー(1軸70度) ...
透過型電子顕微鏡 大阪大学 微細構造解析 日立製FEG付透過型電子顕微鏡HF-2000 加速電圧:200kV 分析機能:EDS(ナノ分析、マッピング不可) ホルダー:標準(1軸)、2軸傾斜、加熱 画像記...
透過型電子顕微鏡 大阪大学 微細構造解析 日立製透過型電子顕微鏡H-800 加速電圧:200kV 分析機能:EDS ホルダー:標準(1軸)、2軸傾斜、加熱、冷却(液体He, 液体N2) 画像記録:CCD(...
透過型電子顕微鏡 大阪大学 微細構造解析 日立製透過型電子顕微鏡H-7500 加速電圧:120kV ホルダー:標準(1軸) 画像記録:CCD(2k×2k) ...
高分子・生物系電子顕微鏡用試料作製装置群 大阪大学 微細構造解析 包埋樹脂重合装置、カーボン蒸着装置...
材料系電子顕微鏡用試料作製装置群 大阪大学 微細構造解析 機械研摩装置、tripod、ディンプルグラインダー...

[1]      «      2   |   3   |   4   |   5   |   6   |   7   |   8   |   9   |   10   |   11   |   12      »      [59]