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写真 設備名称 設置機関 研究分野 仕様
小角・広角X線回折装置 東北大学 微細構造解析 RIGAKU社製SmartLab 9SW 出力; 9kW、0次元検出器、1次元検出器、DSCユニット...
分析電子顕微鏡 東北大学 微細構造解析 分析電子顕微鏡 Topcon EM-002B (200kV, LaB6) EDS点分析 プリセッション電子回折...
透過電子顕微鏡 東北大学 微細構造解析 透過電子顕微鏡 JEOL JEM-2000EXⅡ (200kV, LaB6) 試料加熱ホルダー(最高加熱温度:約800℃) 試料冷却ホルダー...
薄膜断面試料作製装置 東北大学 微細構造解析 イオンスライサ JEOL EM-09100IS イオン加速電圧:1kV-8kV...
モノクロメーター搭載超高分解能収差補正型分析電子顕微鏡 東北大学 微細構造解析 加速電圧:300kV/60kV 球面収差補正装置(照射系、結像系) エネルギー分解能:0.30eV/0.85eV (Mono on/off) EDS分析 (30m㎥検出器x4=120m㎥)...
超高分解能分析電子顕微鏡 東北大学 微細構造解析 加速電圧:300kV/60kV 球面収差補正装置(照射系) EDS分析(30m㎥検出器x4 = 120m㎥)...
軽元素対応型超高分解能走査透過型電子顕微鏡(Cs-STEM)JEM-ARM200F Cold FE(日本電子) 東京大学 微細構造解析 □ 主な特長 照射系球面収差補正装置を標準搭載し、機械的・電気的安定度を極限まで高めることで、世界最高の走査透過像(STEM-HAADF)分解能&n...
走査透過型分析電子顕微鏡(TEM/STEM)JEM-2800(日本電子) 東京大学 微細構造解析 □主な特長電子顕微鏡観察を自動化。コントラスト&ブライトネス、試料高さ、結晶方位あわせ、フォーカス、非点補正を自動調整。TEM、STEM、SEM...
超高分解能透過型電子顕微鏡(Cs-HRTEM)JEM-ARM200F Thermal FE(日本電子) 東京大学 微細構造解析 □ 主な特長 結像系球面収差補正装置を搭載することにより、透過顕微鏡像(TEM)の分解能が0.11nmまで向上 高圧、対物電流の変動を従来機の50...
クライオ透過型電子顕微鏡(Cryo-TEM/STEM)JEM-2100F(日本電子) 東京大学 微細構造解析 □ 主な仕様 ショットキー型FE電子銃装備 分解能<0.31nm EDS、EELS検出器装備 TEM/STEM 3次元トモグラフィ機能装備 極低温観察用クライオト...
有機材料ハイコントラスト電子顕微鏡(Bio-TEM)JEM-1400(日本電子) 東京大学 微細構造解析 □ 主な仕様 分解能<0.38nm 試料を一度に4個装填できる試料ホルダ装備 オートフォーカス及び自動モンタージュ機能  (自動つなぎ合わせ...
多機能走査型X線光電子分光分析装置(XPS)PHI 5000 VersaProbe(ULVAC-PHI) 東京大学 微細構造解析 PHI 5000 VersaProbe(アルバックファイ) □ 主な特長 走査型マイクロフォーカスX線源による微小領域分析(最小分析領域10μm) SXI(Scanning&nb...
超微量元素計測システム(SIMS)NanoSIMS 50L(AMETEK) 東京大学 微細構造解析 □ 主な特長 高感度な元素マッピング・同位体比測定が可能 高質量分解能 高空間分解能:<50nm 最大7種類の二次イオン像の同時検出が可能 ...
原子直視型超高圧電子顕微鏡(JEM-ARM1250) 東京大学 微細構造解析 本体加速電圧:400、600、800、1,000、1,250kV電子線源:単結晶LaB6焦点距離:8.2mm球面収差係数:1.4mm色収差係数:2.5mm分解能:0.1nm(粒子像)試料最大傾...
高分解能透過型分析電子顕微鏡(JEM-4010) 東京大学 微細構造解析 本体  加速電圧:100、150、200、250、300、350、400kV  電子線源:単結晶LaB6  焦点距離:3.1mm  球面収差係数:0.7mm  色収...
高分解能分析電子顕微鏡(JEM-2010F) 東京大学 微細構造解析 本体加速電圧:80,100,120,160,200kV電子線源:熱電界放射型分解能:0.155nm(粒子像)試料最大傾斜角:±20°試料移動:モーター駆動排気方式:ス...
ハイコントラスト透過型電子顕微鏡(JEM-2010HC) 東京大学 微細構造解析 本体  加速電圧 : 80、100、120、160、200kV  電子線源 : 単結晶LaB6  試料最大傾斜角 : ±30° &nbs...
高分解能トップエントリー型透過電子顕微鏡(JEM-2000EX) 東京大学 微細構造解析 本体加速電圧 : 80、100、120、160、200kV電子線源 : 単結晶LaB6分解能 : 0.1nm(格子像)試料最大傾斜角 : ±10°...
透過型電子顕微鏡試料イオンビーム加工設備(FIB)JIB-4600F(日本電子) 東京大学 微細構造解析 □ 特長 高分解能 FE-SEM を搭載し、ピンポイントでの断面作製が可能 高分解能 SEM で FIB 加工状況をリアルタイムにモニ...
微小結晶構造解析装置VariMax Dual((株)リガク) 東京大学 微細構造解析 □ 主な特長 これまで放射光でないと回折強度測定が困難であった数十μm角以下の結晶や一片が10μm以下の結晶などの微小結晶の構造解析...

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