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写真 設備名称 設置機関 研究分野 仕様
単粒子測定システム 物質・材料研究機構 蓄電池基盤 KEYENCE, BioLogic, Micro Support 特型解像度が高く操作性のよい光学顕微鏡と、金属探針を狙った粒子に接触させるためのマニピュレータ、電気化学測定装...
ICP/MS(誘導結合プラズマ質量分析計) 物質・材料研究機構 蓄電池基盤 Agilent社製 Agilent 7700 ICP-MS高感度な多元素分析を高いサンプルスループットで実現する元素分析装置。誘導結合プラズマ(ICP)を励起源として用い、...
LC/MS(液体クロマトグラフ質量分析計) 物質・材料研究機構 蓄電池基盤 Waters社製 Xevo G2-S Qtof液体クロマトグラフと四重極型MS、飛行時間型MSを組み合わせた装置。質量分解能、定量性能、質量精度、分析のスピードが高...
イオンクロマトグラフ 物質・材料研究機構 蓄電池基盤 Dionex社製 ICS-2100イオン交換カラムによりイオン成分を分離し、液体試料中の各種イオン(無機陰イオン, 無機陽イオン, 有機酸, アミンなど)を高感...
酸素・窒素・水素定量分析装置 物質・材料研究機構 蓄電池基盤 HORIBA社製 EMGA不活性ガス雰囲気中で試料を加熱融解させ、発生するガス中の酸素と窒素と水素を分析する装置。検出方式は酸素と水素が非分散型赤...
グロー放電発光分析装置(GD-OES) 物質・材料研究機構 蓄電池基盤 HORIBA社製 GD-Profiler 2Arプラズマにより試料をスパッタリングさせ、スパッタされた原子を原子発光させることで元素分析を行う装置。パルススパッ...
GC/MS(ガスクロマトグラフ質量分析計) 物質・材料研究機構 蓄電池基盤 Agilent社製 Agilent 5977A GC/MSGCで分離した各成分をスプリットして一部を質量分析計、一部をFIDで分析することにより定性分析と同時に概略定量が可...
電池発生ガス分析装置 物質・材料研究機構 蓄電池基盤 JEOL社製 JMS-700イオン化した原子・分子をイオンの質量・イオンの電荷数よって分離、測定する装置。高加速イオン源と高電圧印加コンバージョンダ...
XRF(蛍光X線分析装置) 物質・材料研究機構 蓄電池基盤 SHIMADZU社製 LAB CENTER XRF-1800試料にX線を照射し、試料中の元素から放出される特性X線を検出することによって、250μmスケールでの元素分析が可能。...
XPS(X線光電子分光装置) 物質・材料研究機構 蓄電池基盤 ULVAC-PHI社製 VersaProbe IIX線励起によって放出された光電子を分析することによって、試料表面の組成比および酸化状態を決定することが可能。Arイオ...
HAXPES 物質・材料研究機構 蓄電池基盤 Omicron Nano Technology、ULVAC-PHI(光源)硬X線励起によって放出された光電子を分析することによって、表面元素を検出することが可能。この装置は集束Cr...
XRD(X線回折装置) 物質・材料研究機構 蓄電池基盤 Rigaku社製 SmartLab高輝度X線源 及び In-Planeアームを搭載した試料水平配置高精度ゴニオメータを使用したX線回折装置。窒素等不活性ガス雰囲気中で110...
比表面積測定装置 物質・材料研究機構 蓄電池基盤 Micromeritics社製 3FLEX3ポート搭載で、3試料同時測定可能メソポア/マイクロポアの測定に対応各ポートに低圧トランスデューサーが搭載してあり、高...
粒子径分布測定装置 物質・材料研究機構 蓄電池基盤 HORIBA社製 LA-950V2 MF粒子群にレーザ光(650nm)とLED(405nm)を照射し、そこから発せられる回折・散乱光の強度分布パターンから計算により粒度分布...
環境制御型SPM 物質・材料研究機構 蓄電池基盤 Bruker AXS社製 MultiMode 8 + グローブボックス(MBrown)水分および酸素濃度が1ppm未満の雰囲気で、電極材料の活性を損なわずに材料表界面状態をナノス...
TOF-SIMS 物質・材料研究機構 蓄電池基盤 ION-TOF社製 TOF.SIMS5-AD-GCIBイオンスパッタによって発生した2次イオンを質量分析することで、非常に高感度な分析が可能。スタティックSIMSの条件では...
TEM/STEM 物質・材料研究機構 蓄電池基盤 JEOL社製  JEM-ARM200F(HR)照射系球面収差補正装置を搭載し、超高分解能(STEM-HAADF:78pm(200kV))での観察を実現させるとともに、高いエネルギー分...
FIB 物質・材料研究機構 蓄電池基盤 JEOL社製 JIB-4501熱電子銃形SEMと高性能イオンカラムを搭載した複合ビーム加工観察装置。加工ステージの冷却対応にて、低ダメージのFIB加工が可能...
FIB-SEM 物質・材料研究機構 蓄電池基盤 Hitachi High-Tech Science社製 SMF2000FIBとSEMの鏡筒が直角配置され、FIB加工と観察を繰り返すことにより3D再構築が可能。クライオホルダーを用いることに...
SEM 物質・材料研究機構 蓄電池基盤 JEOL社製 JSM-7800F静磁場と静電場を重畳させた対物レンズを備え、低加速電圧(0.01~30kV)で高分解能(0.8nm(15kV)/1.2nm(1kV))な観察が可能。軟X線...

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