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ナノテクジャパンは、文部科学省「ナノテクノロジープラットフォーム」の一環として、全国の産学官の利用者に対して、
最先端研究施設及び研究支援能力を分野横断的にかつ最適な組合せで提供できる共用システムを構築し、研究課題解決への貢献を目指して活動しております。
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文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム共用設備利用案内サイトへようこそ！ 研究開発に必要な最先端の装置群を日本全国の研究機関から選べます．
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1175件中、41件目～60件目を表示しています。
[1] « 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 | 8 | 9 | 10 | 11 » [59]| 写真 | 設備名称 | 設置機関 | 研究分野 | 仕様 |
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収差補正透過電子顕微鏡 | 京都大学 | 微細構造解析 | 日本電子社製JEM-2200FS 加速電圧：200kV 結像系球面収差補正装置 （CEOS社製） 電子銃：ショットキー型 分解能：0.1 nm ... |
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モノクロメータ搭載低加速原子分解能分析電子顕微鏡 | 京都大学 | 微細構造解析 | 日本電子社製JEM-ARM200F 加速電圧：200kV, 60kV モノクロメータ：ダブルウィーンフィルター 球面収差補正装置（CEOS社製） エネルギーフィルター... |
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集束イオンビーム装置 | 京都大学 | 微細構造解析 | 日本電子社製JEM-9310FIB Gaイオン源 Gaイオンエネルギー：5～30 kV 最大電流10nA、分解能8nm ... |
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ミクロトーム | 京都大学 | 微細構造解析 | Leica社製ULTRA CUT UCT ステージ：クライオステージ、室温... |
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精密イオン研磨装置 | 京都大学 | 微細構造解析 | Gatan社製Model691/PIPS Arイオン源 0.1～5kV、低温ステージ ... |
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ディンプリング装置 | 京都大学 | 微細構造解析 | South Bay Technology社製D500i... |
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超高圧電子顕微鏡 (JEM-1300NEF) | 九州大学 | 微細構造解析 | 世界唯一のオメガ型電子分光装置ならびにSDD型X線検出器を装着した超高圧電子顕微鏡。像観察とともに元素組成・状態分析が可能。ミクロンメータ... |
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収差補正走査/透過電子顕微鏡(JEM-ARM200F) | 九州大学 | 微細構造解析 | 照射レンズ系、結像レンズ系のそれぞれに収差補正機能を装備した原子分解能電子顕微鏡。収差補正対応加速電圧 60, 80, 120, 200kV。世... |
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3次元観察用電子分光型電子顕微鏡 (JEM-3200FSK) | 九州大学 | 微細構造解析 | 熱電界放射電子銃、オメガ型電子エネルギー分光フィルターとエネルギー分散型Ｘ線検出器を搭載。非対称対物レンズポールピースを内蔵しており... |
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ローレンツ電子顕微鏡 (TECNAIG2-F20) | 九州大学 | 微細構造解析 | 熱電界放射電子銃とエネルギー分散型Ｘ線検出器を搭載した分析電子顕微鏡。STEM像（BF, HAADF）観察、STEM元素マッピングやSTEMによる結晶性材料の... |
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デジタル電子顕微鏡（TECNAI-20) | 九州大学 | 微細構造解析 | 操作性に優れた汎用的な分析電子顕微鏡。一般的な電子顕微鏡観察のほか、STEM元素マッピング、3次元トモグラフィ、加熱・冷却（液体窒素）その場... |
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マイクロカロリーメーター高エネルギー分解能元素分析装置（SII TES + Zeiss-ULTRA55) | 九州大学 | 微細構造解析 | 低加速電圧走査電子顕微鏡（Zeiss ULTRA55, 加速電圧0.1～30 kV）に超伝導マイクロカロリーメーターＸ線検出器を搭載。バルク材料の表面状態... |
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試料作製装置群 | 九州大学 | 微細構造解析 | 切断装置（ダイアモンドカッター、超音波カッター） 機械研磨装置（ディンプルグラインダー） Arイオン研磨装置（Fischione Nano Mill Mode... |
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広電圧超高感度原子分解能電子顕微鏡(JEM-ARM200CF) | 九州大学 | 微細構造解析 | 収差補正機能を装備した原子分解能電子顕微鏡。加速電圧は30〜200kV。大口径SDD型X線検出器と電子エネルギーフィルター（GIF Quanta）を装備。ナノ... |
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デュアルビームFIB-SEM加工装置（FEI Quanta 200 3D) | 九州大学 | 微細構造解析 | 加速電圧（SEM）：30kV試料ピックアップ：Omniprobe液体窒素：試料冷却ステージ 有... |
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収差補正高分解能電子顕微鏡 （JEM-ARM200F） | 九州大学 | 微細構造解析 | 照射レンズ系に収差補正機能を装備した原子分解能電子顕微鏡。金属やセラミックスなどの原子分解能STEM-BF/ADF/ABF/HAADF像観察、EDS分析、種々の電子... |
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直交型FIB-SEM | 九州大学 | 微細構造解析 | Gaイオンビームによるナノメートル単位でのスライス加工と走査電子顕微鏡による高分解能観察を交互に連続して行うことが可能。SEM鏡筒とFIB鏡筒が... |
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単原子分析電子顕微鏡 | 物質・材料研究機構 | 微細構造解析 | FEI社製Titan Cubed照射レンズ系、結像レンズ系のそれぞれに収差補正機能を搭載、電子銃はモノクロメータ電子銃を装備。TEM/STEMで世界最高分解能... |
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実動環境対応物理分析電子顕微鏡 | 物質・材料研究機構 | 微細構造解析 | 日本電子社製JEM-ARM200F照射レンズ系、結像レンズ系のそれぞれに収差補正機能を搭載。加速電圧200&120kV&80kV。TEM, STEM, EDS, 高感度EELS,&n... |
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原子識別電子顕微鏡 | 物質・材料研究機構 | 微細構造解析 | 日本電子社製JEM-3100FEFインカラムオメガフィルターおよび、EDSを備えた、300kV分析電子顕微鏡。軽元素から重元素まで、幅広い元素に対して、高分解... |
