NanotechJapan YellowPages
ナノテクジャパンは、文部科学省「ナノテクノロジープラットフォーム」の一環として、全国の産学官の利用者に対して、
最先端研究施設及び研究支援能力を分野横断的にかつ最適な組合せで提供できる共用システムを構築し、研究課題解決への貢献を目指して活動しております。
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文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム共用設備利用案内サイトへようこそ！ 研究開発に必要な最先端の装置群を日本全国の研究機関から選べます．
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1179件中、101件目～120件目を表示しています。
[1] « 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 | 8 | 9 | 10 | 11 » [59]| 写真 | 設備名称 | 設置機関 | 研究分野 | 仕様 |
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HRTEM解析システム | 物質・材料研究機構 | 微細構造解析 | Total Resolution社製MacTempus X & Crystal Kit XHRTEMシミュレーション、結晶モデリング... |
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電子線トモグラフィー解析システム | 物質・材料研究機構 | 微細構造解析 | Reconstruction 及び Visualizer... |
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高輝度放射光高分解能粉末X線回折装置 | 物質・材料研究機構 | 微細構造解析 | 粉末結晶構造解析用のためのX線回折強度データ収集が可能。2qでの角度分解能0.003° 。イメージングプレート検出器あるいは1次元半導体X線検出器... |
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精密イオン研磨装置(PIPS) | 物質・材料研究機構 | 微細構造解析 | ガタン社製691PIPS精密イオン研磨装置。イオンビームエネルギー0.1～6keV試料冷却が可能。... |
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高輝度放射光硬X線光電子分光装置 | 物質・材料研究機構 | 微細構造解析 | 固体試料から生じる光電子の運動エネルギーを高エネルギー分解能、高角度分解能で検出可能。埋もれた界面の化学結合状態、電子構造の解析が可... |
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高輝度放射光薄膜・ナノ構造用回折計 | 物質・材料研究機構 | 微細構造解析 | 試料表面内、面直方向の3次元の原子配置構造の解析が可能。結晶性の薄膜機能材料の表面、界面のマイクロラフネス、薄膜の格子歪、電荷密度の深... |
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200kV電界放出形透過電子顕微鏡 | 物質・材料研究機構 | 微細構造解析 | 日本電子社製JEM-2100F200kV電界放出形透過型電子顕微鏡。TEM、STEM、EDS、EELSが可能。電子線回折も取れるCCDカメラ(Orius200D)装備。 ... |
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200kV透過電子顕微鏡 | 物質・材料研究機構 | 微細構造解析 | 日本電子社製JEM-2100200kV透過型電子顕微鏡。TEM、EDSが可能。電子線回折も取れるCCDカメラ（Orius200D）装備。2軸加熱ホルダー装備。... |
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FIB加工装置 | 物質・材料研究機構 | 微細構造解析 | 日本電子社製JIB-4000Gaイオンエネルギー：1～30 kV、最大電流60nA、分解能5nm、バルクステージ装備... |
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300kV電界放出形透過電子顕微鏡 | 物質・材料研究機構 | 微細構造解析 | FEI社製Tecnai G2 F30300kV電界放出形透過電子顕微鏡。TEM、STEM、EDS、エネルギーフィルター、ローレンツ顕微鏡法が可能。... |
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走査電子顕微鏡 | 物質・材料研究機構 | 微細構造解析 | 日本電子社製JSM-7000F電子銃：ショットキーFEG、加速電圧：0.5～30kV、分解能1.2nm（30kV）、EDS付属... |
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実動環境対応電子線ホログラフィー電子顕微鏡 | 物質・材料研究機構 | 微細構造解析 | 日本電子社製JEM-ARM200F 照射レンズ系、結像レンズ系のそれぞれに収差補正機能を搭載。加速電圧200＆80kV&60kV。TEM, STEM, EDS, EELS, 電子線ホログラフ... |
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環境制御型周波数変調方式走査型プローブ顕微鏡 | 物質・材料研究機構 | 微細構造解析 | 島津製作所社製SPM-8000FM 液中、真空中、ガス雰囲気、加熱、光照射などの環境場における周波数変調（FM）方式の原子分解能走査型プローブ顕微鏡（... |
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デュアルビーム加工観察装置(FIB-SEM) | 物質・材料研究機構 | 微細構造解析 | 集束イオンビーム(FIB)加工と走査型電子顕微鏡観察(SEM)が可能な装置です。SEMで観察しながらFIB加工が可能です。またカラム内で加工薄片をマイクロ... |
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マイクロフォーカスX線CT装置 | 物質・材料研究機構 | 微細構造解析 | 微小焦点（Φ0.4μm）のX線源を用いた高分解能X線CT装置。非常に高速なCT処理速度を有しており、材料内部の三次元的な欠陥構造や組織分散状態の... |
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低温走査型トンネル顕微鏡 | 物質・材料研究機構 | 微細構造解析 | 低温・高磁場走査型トンネル顕微鏡導電性単結晶表面の原子分解能観察およびトンネル分光測定が可能 長焦点距離顕微鏡の併用により、~10μmサイ... |
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走査型オージェ電子分光分析装置 | 物質・材料研究機構 | 微細構造解析 | 走査型オージェ電子分光分析装置PHI680 AESは、電子線照射により表面から放出されるオージェ電子の運動エネルギーと強度を測定する表面分析手法で... |
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電界放出形電子線プローブマイクロアナライザー装置 | 物質・材料研究機構 | 微細構造解析 | 電界放出形電子線プローブマイクロアナライザー装置JXA-8500F FE-EPMAは、FE電子銃搭載の高感度微小領域EPMAで、0.1μmオーダーの元素分析が可能。金属... |
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ガス吸着型比表面積・ナノ細孔径評価装置 | 物質・材料研究機構 | 微細構造解析 | ナノ粒子・マイクロ粒子・ナノファイバー・ナノチューブの比表面積測定・平均粒径の算出。多孔性材料の細孔径分布評価。窒素ガスの吸着による20... |
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スピン偏極低エネルギー電子顕微鏡 (SPLEEM) | 物質・材料研究機構 | 微細構造解析 | 低エネルギーのスピン偏極電子ビームを試料に照射し、表面の顕微像を得る。 SPLEEM (磁区コントラスト)、LEEM (回折コントラスト、干渉コントラスト... |
