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ナノテクジャパンは、文部科学省「ナノテクノロジープラットフォーム」の一環として、全国の産学官の利用者に対して、
最先端研究施設及び研究支援能力を分野横断的にかつ最適な組合せで提供できる共用システムを構築し、研究課題解決への貢献を目指して活動しております。
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文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム共用設備利用案内サイトへようこそ！ 研究開発に必要な最先端の装置群を日本全国の研究機関から選べます．
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1178件中、161件目～180件目を表示しています。
[1] « 4 | 5 | 6 | 7 | 8 | 9 | 10 | 11 | 12 | 13 | 14 » [59]| 写真 | 設備名称 | 設置機関 | 研究分野 | 仕様 |
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分析電子顕微鏡 | 東北大学 | 微細構造解析 | 分析電子顕微鏡 Topcon EM-002B (200kV, LaB6) EDS点分析 プリセッション電子回折... |
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透過電子顕微鏡 | 東北大学 | 微細構造解析 | 透過電子顕微鏡 JEOL JEM-2000EXⅡ (200kV, LaB6) 試料加熱ホルダー（最高加熱温度：約800℃） 試料冷却ホルダー... |
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薄膜断面試料作製装置 | 東北大学 | 微細構造解析 | イオンスライサ JEOL EM-09100IS イオン加速電圧：1kV-8kV... |
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モノクロメーター搭載超高分解能収差補正型分析電子顕微鏡 | 東北大学 | 微細構造解析 | 加速電圧：300kV/60kV 球面収差補正装置（照射系、結像系） エネルギー分解能：0.30eV/0.85eV (Mono on/off) EDS分析 （30m㎥検出器x4=120m㎥）... |
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超高分解能分析電子顕微鏡 | 東北大学 | 微細構造解析 | 加速電圧：300ｋV/60kV 球面収差補正装置（照射系） EDS分析（30ｍ㎥検出器x4 = 120m㎥）... |
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軽元素対応型超高分解能走査透過型電子顕微鏡（Cs-STEM）JEM-ARM200F Cold FE(日本電子) | 東京大学 | 微細構造解析 | □ 主な特長 照射系球面収差補正装置を標準搭載し、機械的・電気的安定度を極限まで高めることで、世界最高の走査透過像（STEM-HAADF）分解能&n... |
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走査透過型分析電子顕微鏡（TEM/STEM）JEM-2800(日本電子) | 東京大学 | 微細構造解析 | □主な特長電子顕微鏡観察を自動化。コントラスト&ブライトネス、試料高さ、結晶方位あわせ、フォーカス、非点補正を自動調整。TEM、STEM、SEM... |
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超高分解能透過型電子顕微鏡(Cs-HRTEM)JEM-ARM200F Thermal FE(日本電子) | 東京大学 | 微細構造解析 | □ 主な特長 結像系球面収差補正装置を搭載することにより、透過顕微鏡像（TEM）の分解能が0.11nmまで向上 高圧、対物電流の変動を従来機の50... |
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クライオ透過型電子顕微鏡(Cryo-TEM/STEM)JEM-2100F(日本電子) | 東京大学 | 微細構造解析 | □ 主な仕様 ショットキー型FE電子銃装備 分解能<0.31nm EDS、EELS検出器装備 TEM/STEM 3次元トモグラフィ機能装備 極低温観察用クライオト... |
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有機材料ハイコントラスト電子顕微鏡(Bio-TEM)JEM-1400(日本電子) | 東京大学 | 微細構造解析 | □ 主な仕様 分解能<0.38nm 試料を一度に4個装填できる試料ホルダ装備 オートフォーカス及び自動モンタージュ機能 （自動つなぎ合わせ... |
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多機能走査型X線光電子分光分析装置(XPS)PHI 5000 VersaProbe(ULVAC-PHI) | 東京大学 | 微細構造解析 | PHI 5000 VersaProbe(アルバックファイ) □ 主な特長 走査型マイクロフォーカスＸ線源による微小領域分析（最小分析領域10μm） ＳＸＩ（Scanning&nb... |
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超微量元素計測システム(SIMS)NanoSIMS 50L(AMETEK) | 東京大学 | 微細構造解析 | □ 主な特長 高感度な元素マッピング・同位体比測定が可能 高質量分解能 高空間分解能：<50nm 最大7種類の二次イオン像の同時検出が可能 ... |
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原子直視型超高圧電子顕微鏡（JEM-ARM1250） | 東京大学 | 微細構造解析 | 本体加速電圧：400、600、800、1,000、1,250kV電子線源：単結晶LaB6焦点距離：8.2mm球面収差係数：1.4mm色収差係数：2.5mm分解能：0.1nm（粒子像）試料最大傾... |
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高分解能透過型分析電子顕微鏡（JEM-4010） | 東京大学 | 微細構造解析 | 本体 加速電圧：100、150、200、250、300、350、400kV 電子線源：単結晶LaB6 焦点距離：3.1mm 球面収差係数：0.7mm 色収... |
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高分解能分析電子顕微鏡（JEM-2010F） | 東京大学 | 微細構造解析 | 本体加速電圧：80,100,120,160,200kV電子線源：熱電界放射型分解能：0.155nm（粒子像）試料最大傾斜角：±20°試料移動：モーター駆動排気方式：ス... |
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ハイコントラスト透過型電子顕微鏡（JEM-2010HC） | 東京大学 | 微細構造解析 | 本体 加速電圧 ： 80、100、120、160、200kV 電子線源 ： 単結晶LaB6 試料最大傾斜角 ： ±30° &nbs... |
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高分解能トップエントリー型透過電子顕微鏡（JEM-2000EX） | 東京大学 | 微細構造解析 | 本体加速電圧 ： 80、100、120、160、200kV電子線源 ： 単結晶LaB6分解能 ： 0.1nm（格子像）試料最大傾斜角 ： ±10°... |
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透過型電子顕微鏡試料イオンビーム加工設備(FIB)JIB-4600F(日本電子) | 東京大学 | 微細構造解析 | □ 特長 高分解能 FE-SEM を搭載し、ピンポイントでの断面作製が可能 高分解能 SEM で FIB 加工状況をリアルタイムにモニ... |
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微小結晶構造解析装置VariMax Dual(（株）リガク) | 東京大学 | 微細構造解析 | □ 主な特長 これまで放射光でないと回折強度測定が困難であった数十μｍ角以下の結晶や一片が10μｍ以下の結晶などの微小結晶の構造解析... |
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高輝度In-plane型X線回折装置Smart-Lab(リガク) | 東京大学 | 微細構造解析 | □ 主な特長 高輝度Ｘ線源 及び In-Planeアームを搭載した試料水平配置高精度ゴニオメータを使用したＸ線回折装置。 粉末試料測定に適... |
