実動環境対応物理分析電子顕微鏡
本設備の共用は終了しています。
後継の設備や同様の設備は、「共用設備検索」から検索するか「技術サポート・機器利用のお問い合わせ」よりお問い合わせください。
最終更新日：2025年4月23日
| 設備ID | NM-501 |
|---|---|
| 分類 |
透過電子顕微鏡 > 透過型電子顕微鏡 回折・散乱 > 電子回折 |
| 設備名称 | 実動環境対応物理分析電子顕微鏡 (Real working environment physical characterization TEM) |
| 設置機関 | 物質・材料研究機構 (NIMS) |
| 設置場所 | NIMS千現地区 材料信頼性実験棟118号室 |
| メーカー名 | 日本電子 (JEOL) |
| 型番 | JEM-ARM200F-G |
| キーワード | 形態観察 原子構造解析 組成分析 電子線トモグラフィー 収差補正 |
| 仕様・特徴 | ・照射系レンズ収差補正、結像系レンズ収差補正 ・ショットキーFEG ・加速電圧: 80, 120, 200 kV ・TEM, STEM, EDS, EELS, 電子線ホ口グラフイー, 電子線トモグラフィー |
| 設備状況 | 共用を終了した設備です |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.go.jp/user_report.php?keyword=NM-501 |
