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- 24IT0038
- Si基板上へのInP系半導体薄膜層の転写および素子形成評価
- 2025.6.10
- 東京科学大学
- 24IT0039
- FFI光プローバを用いたシリコンフォトニクスデバイス(Ge PD、パッシブ光素子、アクティブ光素子)面内均一性評価
- 2025.6.10
- 東京科学大学
- 24IT0040
- III-V/Si接合集積向け電界吸収型変調器構造のエピタキシャル成長
- 2025.6.10
- 東京科学大学
- 24IT0041
- シリコンフォトニクス光IC量産に向けたウエハレベルテスト技術の開発
- 2025.6.10
- 東京科学大学
- 24IT0043
- カー効果顕微鏡による磁壁の観察
- 2025.6.10
- 東京科学大学
- 24IT0044
- ダイヤモンド薄膜を用いた量子デバイスの研究
- 2025.6.10
- 東京科学大学
- 24IT0046
- メガソニック洗浄装置を利用したイットリウム鉄ガーネット基板の洗浄と表面観察
- 2025.6.10
- 東京科学大学
- 24IT0047
- 熱酸化SiO2を絶縁膜に用いたダイヤモンドMOSFETの開発へ向けたダイヤモンド基板へのa-Si膜の成膜
- 2025.6.10
- 東京科学大学
- 24IT0048
- EVG ナノインプリント装置を利用した紫外線硬化高屈折率樹脂の開発
- 2025.6.10
- 東京科学大学
- 24IT0049
- Fabrication of nanopore arrays on suspended monolayer molybdnum disulfide
- 2025.6.10
- 東京科学大学