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- 24AT0019
- 新材料デバイス技術
- 2025.6.10
- 産業技術総合研究所
- 24AT0020
- 酸化処理したCNTの表面分析
- 2025.6.10
- 産業技術総合研究所
- 24AT0022
- AlドープしたGaN MOSFETのチャネル特性のMg濃度依存性評価
- 2025.6.10
- 産業技術総合研究所
- 24AT0031
- 半導体材料の電子状態の調査
- 2025.6.10
- 産業技術総合研究所
- 24AT0032
- GeOI FinFETによるクライオCMOSの評価
- 2025.6.10
- 産業技術総合研究所
- 24AT0033
- 3次元フォトニクスに関する研究
- 2025.6.10
- 産業技術総合研究所
- 24AT0034
- 超高時間分解能を持つGaN粒子位置検出器の作製
- 2025.6.10
- 産業技術総合研究所
- 24AT0036
- 熱電変換材料評価の為の加工および分析
- 2025.6.10
- 産業技術総合研究所
- 24AT0037
- Ge基板を用いたGaAs系太陽電池の機械的剥離の研究開発
- 2025.6.10
- 産業技術総合研究所
- 24AT0039
- 回折光学素子のウエハ全面への作製
- 2025.6.10
- 産業技術総合研究所