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24AT0116
製品層内に付着した汚れ・異物の分析
2025.6.10
産業技術総合研究所
24AT0119
SiC基板への電極パターン形成
2025.6.10
産業技術総合研究所
24AT0120
次世代赤外線検出器の研究開発
2025.6.10
産業技術総合研究所
24AT0121
イオンミリングによるパリレン絶縁膜パターンの作製
2025.6.10
産業技術総合研究所
24AT0122
HSQネガレジストと130kV電子線描画装置を用いた微細パターンの作製
2025.6.10
産業技術総合研究所
24AT0123
hp 50 nmライン/スペースパターンの断面SEM観察
2025.6.10
産業技術総合研究所
24AT0124
ナノカーボン材料のデバイス作製と評価
2025.6.10
産業技術総合研究所
24AT0125
EB描画装置を用いた2次元材料への電極コンタクト作製
2025.6.10
産業技術総合研究所
24AT0126
スピントロニクスデバイスの作製
2025.6.10
産業技術総合研究所
24AT0127
原子層堆積装置を用いたALD成膜実験
2025.6.10
産業技術総合研究所
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