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- 24AT0379
- シリコン基板上高分子薄膜の元素分析
- 2025.6.10
- 産業技術総合研究所
- 24AT0382
- 超伝導検出器開発のための研究
- 2025.6.10
- 産業技術総合研究所
- 24AT5051
- BL-12Aと超伝導検出器を組み合わせたX線吸収分光装置の評価
- 2025.6.10
- 産業技術総合研究所
- 24AT5052
- 低磁場時間領域NMRを用いた地質試料の非破壊計測
- 2025.6.10
- 産業技術総合研究所
- 24AT5054
- ペロブスカイト薄膜の陽電子消滅寿命分光
- 2025.6.10
- 産業技術総合研究所
- 24AT0361
- ナノギャップデバイスの開発
- 2025.6.10
- 産業技術総合研究所
- 24AT0380
- 量子ホール素子の開発
- 2025.6.10
- 産業技術総合研究所
- 24AT0389
- アルミ薄膜表面のAFM観察
- 2025.6.10
- 産業技術総合研究所
- 24AT5026
- 超伝導X線検出器の異なるX線に対する特性評価
- 2025.6.10
- 産業技術総合研究所
- 24AT5027
- 異なるバッファ層における超伝導X線検出器の特性評価
- 2025.6.10
- 産業技術総合研究所