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24AT0379
シリコン基板上高分子薄膜の元素分析
2025.6.10
産業技術総合研究所
24AT0382
超伝導検出器開発のための研究
2025.6.10
産業技術総合研究所
24AT5051
BL-12Aと超伝導検出器を組み合わせたX線吸収分光装置の評価
2025.6.10
産業技術総合研究所
24AT5052
低磁場時間領域NMRを用いた地質試料の非破壊計測
2025.6.10
産業技術総合研究所
24AT5054
ペロブスカイト薄膜の陽電子消滅寿命分光
2025.6.10
産業技術総合研究所
24AT0361
ナノギャップデバイスの開発
2025.6.10
産業技術総合研究所
24AT0380
量子ホール素子の開発
2025.6.10
産業技術総合研究所
24AT0389
アルミ薄膜表面のAFM観察
2025.6.10
産業技術総合研究所
24AT5026
超伝導X線検出器の異なるX線に対する特性評価
2025.6.10
産業技術総合研究所
24AT5027
異なるバッファ層における超伝導X線検出器の特性評価
2025.6.10
産業技術総合研究所
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