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24BA0002
界面・薄膜の分光学的研究のためのシリカコートCaF2基板の作製
2025.6.10
筑波大学
24BA0003
酸化物半導体材料の電子状態の観察
2025.6.10
筑波大学
24BA0004
金属製エンコーダスケールの評価と観察
2025.6.10
筑波大学
24BA0005
新規アプリケーションとして利用可能な機能性薄膜の成長条件の探査
2025.6.10
筑波大学
24BA0006
GaNトポロジカルフォトニック結晶の作製
2025.6.10
筑波大学
24BA0007
「微細加工装置」を利用した高温超伝導体高周波デバイスの製作
2025.6.10
筑波大学
24BA0008
スピントロニクス材料の評価と素子作製
2025.6.10
筑波大学
24BA0009
走査型電子顕微鏡及びFIB装置を用いたプラズマ照射材の表面・断面及び組成計測
2025.6.10
筑波大学
24BA0010
針式表面段差計 Alpha-Step D-500装置による膜厚の観察
2025.6.10
筑波大学
24BA0011
TEM/AFMを用いた超高速計測技術の研究
2025.6.10
筑波大学
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