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- 24BA0002
- 界面・薄膜の分光学的研究のためのシリカコートCaF2基板の作製
- 2025.6.10
- 筑波大学
- 24BA0003
- 酸化物半導体材料の電子状態の観察
- 2025.6.10
- 筑波大学
- 24BA0004
- 金属製エンコーダスケールの評価と観察
- 2025.6.10
- 筑波大学
- 24BA0005
- 新規アプリケーションとして利用可能な機能性薄膜の成長条件の探査
- 2025.6.10
- 筑波大学
- 24BA0006
- GaNトポロジカルフォトニック結晶の作製
- 2025.6.10
- 筑波大学
- 24BA0007
- 「微細加工装置」を利用した高温超伝導体高周波デバイスの製作
- 2025.6.10
- 筑波大学
- 24BA0008
- スピントロニクス材料の評価と素子作製
- 2025.6.10
- 筑波大学
- 24BA0009
- 走査型電子顕微鏡及びFIB装置を用いたプラズマ照射材の表面・断面及び組成計測
- 2025.6.10
- 筑波大学
- 24BA0010
- 針式表面段差計 Alpha-Step D-500装置による膜厚の観察
- 2025.6.10
- 筑波大学
- 24BA0011
- TEM/AFMを用いた超高速計測技術の研究
- 2025.6.10
- 筑波大学