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表示件数
- 22GA0027
- 薄膜の膜厚測定
- 2025.6.9
- 香川大学
- 22GA0105
- イオンミリング加工した磁性材料の特性評価
- 2025.6.9
- 香川大学
- 23HK0035
- イオン層エピタキシー法によるZnOナノシートの選択合成
- 2025.5.15
- 北海道大学
- 23HK0086
- 高強度高靭性鋼の粒界におけるCr濃度分布調査
- 2025.5.15
- 北海道大学
- 23HK0127
- リング状ポリオキソメタレートの内部空隙を利用した金属ナノクラスター合成
- 2025.5.15
- 北海道大学
- 23QS0120
- 放射光全散乱測定による低結晶性P2-Na2/3Mn2/3Ni1/3O2のinsitu, ex situ PDF解析を用いた劣化機構解析
- 2025.5.14
- 量子科学技術研究開発機構
- 23BA0047
- 導電性高分子の分析
- 2025.5.12
- 筑波大学
- 23BA0043
- Measurement of several core-levels in CsPbI3 thin film
- 2025.5.12
- 筑波大学
- 23BA0037
- 銅ナノインクの静電インクジェット吐出性確認
- 2025.5.12
- 筑波大学
- 22HK0008
- 光カソード型ナノ共振器特性を志向した半導体薄膜製造法の開発
- 2025.5.7
- 北海道大学