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- 23KT0022
- A sample preparation of the preferential corrosion attack area of NAB cut by FIB
- 2024.7.25
- 京都大学
- 23KT1049
- シリコンMEMSデバイスの作製と評価
- 2024.7.25
- 京都大学
- 23KT1051
- ナノギャップの熱，電気伝導特性の測定
- 2024.7.25
- 京都大学
- 23KT1183
- シリコンMEMSデバイスの作製と評価
- 2024.7.25
- 京都大学
- 23KT1184
- シリコンMEMSデバイスの作製と評価
- 2024.7.25
- 京都大学
- 23KT1185
- Fabrication and electro-mechanical study of nano-scale resonators
- 2024.7.25
- 京都大学
- 23KT1253
- Fabrication and electro-mechanical study of nano-scale resonators
- 2024.7.25
- 京都大学
- 23KT1005
- 接触面の形状計測
- 2024.7.25
- 京都大学
- 23KT1011
- 半導体異種材料接合の研究
- 2024.7.25
- 京都大学
- 23KT1023
- 共有結合性有機構造体の結晶性の評価
- 2024.7.25
- 京都大学