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- 23BA0024
- 金属ハライドペロブスカイト半導体の物性評価
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 23BA0025
- 電界放出型走査電子顕微鏡による2次元半導体の観察
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 23BA0027
- 「微細加工装置」を利用した高温超伝導デバイスの製作
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 23BA0029
- 界面・薄膜の分光学的研究
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 23BA0030
- プローブ顕微鏡や光学手法を用いた先端的計測実現へ向けた試料作製
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 23BA0031
- ナノ加工を用いたプラズモニックデバイスの作製
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 23BA0034
- パターン投影リソグラフィシステム及び電子線蒸着装置を利用した簡易型光シナプスの作製
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 23BA0035
- イオンミリングによる材料の表面及び断面研磨
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 23BA0036
- ナノカーボン材料の局所電気伝導特性評価
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 23BA0038
- ピラミッドテクスチャSi表面に形成した超極薄AlドープSiOx膜の表面電位測定
- 2024.7.25
- 筑波大学