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- 22RO0037
- 異種基板上常温接合素子の微細化
- 2023.8.1
- 広島大学
- 22RO0035
- magnetic tunnel junctionの信頼性に関する研究
- 2023.8.1
- 広島大学
- 22RO0034
- ワイドバンドギャップ半導体を用いたMOSFETの耐放射線性に関する研究
- 2023.8.1
- 広島大学
- 22RO0033
- 短チャネル4H-SiC Trench MOSFETsの研究
- 2023.8.1
- 広島大学
- 22RO0032
- 3次元パワーICのプロセス技術の開発
- 2023.8.1
- 広島大学
- 22RO0030
- 極限環境デバイスのための4H-SiC CMOSプロセスの研究
- 2023.8.1
- 広島大学
- 22RO0029
- Study on poly-Si thin films
- 2023.8.1
- 広島大学
- 22RO0028
- ニッケルのナノ構造形成・組成分析の評価・測定
- 2023.8.1
- 広島大学
- 22RO0025
- シリコンナノ電子デバイスの作製
- 2023.8.1
- 広島大学
- 22RO0024
- (001)結晶配向された単結晶Si帯への薄膜トランジスタ形成
- 2023.8.1
- 広島大学