【公開日：2025.06.10】【最終更新日：2025.05.09】
課題データ / Project Data
課題番号 / Project Issue Number
24TU0017
利用課題名 / Title
TEMを用いた磁性薄膜の評価
利用した実施機関 / Support Institute
東北大学 / Tohoku Univ.
機関外・機関内の利用 / External or Internal Use
内部利用（ARIM事業参画者以外）/Internal Use (by non ARIM members)
技術領域 / Technology Area
【横断技術領域 / Cross-Technology Area】（主 / Main）計測・分析/Advanced Characterization（副 / Sub）-
【重要技術領域 / Important Technology Area】（主 / Main）量子・電子制御により革新的な機能を発現するマテリアル/Materials using quantum and electronic control to perform innovative functions（副 / Sub）-
キーワード / Keywords
電子顕微鏡/ Electronic microscope,スピントロニクス/ Spintronics,集束イオンビーム/ Focused ion beam
利用者と利用形態 / User and Support Type
利用者名（課題申請者）/ User Name (Project Applicant)
小泉 洸生
所属名 / Affiliation
東北大学 電気通信研究所
共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
廣畑貴文,Claudia Felser
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes
早坂浩二
利用形態 / Support Type
（主 / Main）技術代行/Technology Substitution（副 / Sub）-
利用した主な設備 / Equipment Used in This Project
TU-503：超高分解能分析電子顕微鏡
TU-508：集束イオンビーム加工装置
TU-507：集束イオンビーム加工装置
報告書データ / Report
概要（目的・用途・実施内容）/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)
本研究ではフェリ磁性ホイスラー合金を用いて、追加元素をドープし磁性を制御することにより、擬似スピンバルブ構造を作製し電流パルスによる局所的な結晶化過程を詳細に評価する。ドープによる擬似スピンバルブ構造の実現には、組成制御を厳密に行う必要があるため、透過型電子顕微鏡(TEM)を用いて、詳細な結晶構造を観察する。
実験 / Experimental
今年度は、集束イオンビーム加工装置を用いてフェリ磁性ホイスラー合金薄膜の断面薄片試料を作製し、断面TEM観察を行った。
結果と考察 / Results and Discussion
ドーパントを添加したフェリ磁性ホイスラー合金薄膜内にある微小なひずみについて、集束イオンビーム加工装置で断面薄片試料を作製し、電子顕微鏡を用いて構造観察を行った。観察結果を画像解析すると、ドーパントにより局所的なひずみが生じていることが明らかになった。
図・表・数式 / Figures, Tables and Equations
その他・特記事項（参考文献・謝辞等） / Remarks(References and Acknowledgements)
成果発表・成果利用 / Publication and Patents
論文・プロシーディング（DOIのあるもの） / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
- C. H. Leung, Y. H. Ling, H. Koizumi, E. Lesne, C. Felser and A. Hirohata, "Correlations between defect density and magnetic properties of Heusler alloy films," Joint Magnetism and Magnetic Materials (MMM)-International Conference on Magnetics (Intermag) (2025/01/14, New Orleans, LO, USA).
特許 / Patents
特許出願件数 / Number of Patent Applications：0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents：0件