利用報告書 / User's Reports

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【公開日:2025.06.10】【最終更新日:2025.04.28】

課題データ / Project Data

課題番号 / Project Issue Number

24NI0104

利用課題名 / Title

遷移金属酸化物の構造物性

利用した実施機関 / Support Institute

名古屋工業大学 / Nagoya Tech.

機関外・機関内の利用 / External or Internal Use

内部利用(ARIM事業参画者以外)/Internal Use (by non ARIM members)

技術領域 / Technology Area

【横断技術領域 / Cross-Technology Area】(主 / Main)計測・分析/Advanced Characterization(副 / Sub)物質・材料合成プロセス/Molecule & Material Synthesis

【重要技術領域 / Important Technology Area】(主 / Main)高度なデバイス機能の発現を可能とするマテリアル/Materials allowing high-level device functions to be performed(副 / Sub)量子・電子制御により革新的な機能を発現するマテリアル/Materials using quantum and electronic control to perform innovative functions

キーワード / Keywords

セラミックスデバイス/ Ceramic device,表面・界面・粒界制御/ Surface/interface/grain boundary control,電子顕微鏡/ Electronic microscope


利用者と利用形態 / User and Support Type

利用者名(課題申請者)/ User Name (Project Applicant)

漆原 大典

所属名 / Affiliation

名古屋工業大学大学院工学研究科

共同利用者氏名 / Names of Collaborators Excluding Supporters in the Hub and Spoke Institutes
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Supporters in the Hub and Spoke Institutes

浅香透

利用形態 / Support Type

(主 / Main)機器利用/Equipment Utilization(副 / Sub),共同研究/Joint Research


利用した主な設備 / Equipment Used in This Project

NI-001:原子分解能分析電子顕微鏡群


報告書データ / Report

概要(目的・用途・実施内容)/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)

ニオブ系圧電セラミックスの微細組織およびドメイン構造を観察するため、名古屋工業大学の設備を利用して制限視野電子回折パターンおよび暗視野像を取得した。

実験 / Experimental

(Na,K)NbO3多結晶体試料を用いてAr+イオンミリング法により観察試料を作製した。収差補正器付き透過型電子顕微鏡(NI-001:JEM-ARM200F)を用いて制限視野電子回折パターンおよび暗視野像を取得した。分極方向を決定することでドメイン構造を明らかにした。

結果と考察 / Results and Discussion

Fig.1 に(Na,K)NbO3の制限視野電子回折パターンを示す。得られた回折パターンの特定の指数の反射が分裂していることから、観察領域にドメイン構造が存在することが明らかとなった。収束電子回折法および暗視野像法を用いることで、(Na,K)NbO3の180°および90°の強誘電ドメインを観察した。

図・表・数式 / Figures, Tables and Equations


Fig. 1 Selected area electron diffraction pattern of (Na,K)NbO3


その他・特記事項(参考文献・謝辞等) / Remarks(References and Acknowledgements)


成果発表・成果利用 / Publication and Patents

論文・プロシーディング(DOIのあるもの) / DOI (Publication and Proceedings)
  1. Daisuke Urushihara, Microscopic evaluation of charged domain wall structure in niobium-based piezoceramics, Applied Physics Letters, 125, (2024).
    DOI: 10.1063/5.0228587
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents

特許出願件数 / Number of Patent Applications:0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents:0件

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