【公開日：2025.06.10】【最終更新日：2025.04.22】
課題データ / Project Data
課題番号 / Project Issue Number
24TU0237
利用課題名 / Title
広範囲な三次元微細組織を活用した永久磁石のモデリング
利用した実施機関 / Support Institute
東北大学 / Tohoku Univ.
機関外・機関内の利用 / External or Internal Use
内部利用（ARIM事業参画者以外）/Internal Use (by non ARIM members)
技術領域 / Technology Area
【横断技術領域 / Cross-Technology Area】（主 / Main）計測・分析/Advanced Characterization（副 / Sub）-
【重要技術領域 / Important Technology Area】（主 / Main）量子・電子制御により革新的な機能を発現するマテリアル/Materials using quantum and electronic control to perform innovative functions（副 / Sub）-
キーワード / Keywords
磁性体, 磁石, 微細組織,集束イオンビーム/ Focused ion beam
利用者と利用形態 / User and Support Type
利用者名（課題申請者）/ User Name (Project Applicant)
諏訪 智巳
所属名 / Affiliation
東北大学 多元物質科学研究所
共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes
竹中佳生
利用形態 / Support Type
（主 / Main）技術代行/Technology Substitution（副 / Sub）-
利用した主な設備 / Equipment Used in This Project
報告書データ / Report
概要（目的・用途・実施内容）/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)
FIB-SEM（集束イオンビーム加工装置）を用いて広範囲の微細組織を高精度に取得し、そのデータを基に統計情報を抽出する。本研究では、FIB-SEMにより数十～数百ナノスケールの分解能で連続的にスライスし、画像処理を通じて三次元再構築を行う。これにより、粒子、粒界、析出物の分布などの微細組織情報を取得できる。さらに、統計解析を行うことで、空間的な微細組織の特徴を整理し、定量的な評価を可能にする。得られた情報をマイクロマグネティクス計算に適用することで、磁化反転過程や局所的な磁場分布を解析し、不均一な微細組織が保磁力に及ぼす影響について新たな知見を得ることを目指す。特に、実験と計算を統合することで、微細組織が磁気特性に与える影響を評価できる点が本研究の特色である。
実験 / Experimental
集束イオンビーム加工装置AMBERX（TU-521）を用いて3D微細組織画像の取得を行う。SEM撮像では、反射電子像および二次電子像を取得する。試料には、Nd-Fe-B磁石（NeoMag, N52）を用い、バルク磁石を研磨加工によって微細化したものを使用した。今年度は初期条件の調整のみを実施した。
結果と考察 / Results and Discussion
バルク磁石を研磨加工によって微細化し、得られた試料の表面を集束イオンビーム加工装置AMBERX（TU-521）で切削し、その後ピラー状に加工した。さらに、表面をクリーニングした後、初期条件の調整を行った。SEM撮像では、反射電子像と二次電子像を取得した。今年度は初期条件の調整のみを実施したため、来年度以降に微細組織の撮像を試みる予定である。
図・表・数式 / Figures, Tables and Equations
その他・特記事項（参考文献・謝辞等） / Remarks(References and Acknowledgements)
成果発表・成果利用 / Publication and Patents
論文・プロシーディング（DOIのあるもの） / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents
特許出願件数 / Number of Patent Applications：0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents：0件