【公開日：2025.06.13】【最終更新日：2025.06.13】
課題データ / Project Data
課題番号 / Project Issue Number
23NU0024
利用課題名 / Title
セラミックス材料における添加元素占有サイト解析
利用した実施機関 / Support Institute
名古屋大学 / Nagoya Univ.
機関外・機関内の利用 / External or Internal Use
外部利用/External Use
技術領域 / Technology Area
【横断技術領域 / Cross-Technology Area】（主 / Main）計測・分析/Advanced Characterization（副 / Sub）-
【重要技術領域 / Important Technology Area】（主 / Main）革新的なエネルギー変換を可能とするマテリアル/Materials enabling innovative energy conversion（副 / Sub）-
キーワード / Keywords
電子顕微鏡/ Electronic microscope,熱電材料/ Thermoelectric material
利用者と利用形態 / User and Support Type
利用者名（課題申請者）/ User Name (Project Applicant)
松村 賢
所属名 / Affiliation
株式会社東ソー分析センター
共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
大塚真弘
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes
利用形態 / Support Type
（主 / Main）技術代行/Technology Substitution（副 / Sub）,共同研究/Joint Research
利用した主な設備 / Equipment Used in This Project
報告書データ / Report
概要（目的・用途・実施内容）/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)
本研究の目的は、 透過電子顕微鏡におけるALCHEMI法を用いて、 セラミックスや熱電変換材料などに添加された微量元素占有サイトを解析することである。 それに向けた予備検討として、 Nbが添加されたSrTi03を用いてNbのサイト占有率の解析を行った。実験結果を社内検討中のため公開猶予。
実験 / Experimental
Nbを微量添加したSrTi03単結晶のTEM分析用薄片試料を作製し、 電界放出型透過電子顕微鏡JEM-21OOF/HKのビームロッキングモードを用いて[110]方位近傍で電子ビームロッキングを行いながらEDSマッピングを行った（高角度分解能電子チャネリングX線分光 (HARECXS) 法）。
結果と考察 / Results and Discussion
HARECXS法により得られたX線イオン化チャネリング図形 (ICP) を図1 に示す。統計的ALCHEMI法によりこれらのパタ ーンの相関を解析することでNbのSr、 Tiに対するサイト占有分率を求めた。 その結果、 Tiサイトヘの占有が予想されるNbがTi サイトのみを占有することを定量的に決定できた。
図・表・数式 / Figures, Tables and Equations
図 1 Nb添加SrTi03から得た各特性X線のイオン化チャネリング図形
その他・特記事項（参考文献・謝辞等） / Remarks(References and Acknowledgements)
成果発表・成果利用 / Publication and Patents
論文・プロシーディング（DOIのあるもの） / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents
特許出願件数 / Number of Patent Applications：0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents：0件