【公開日:2025.06.10】【最終更新日:2025.04.05】
課題データ / Project Data
課題番号 / Project Issue Number
24NM5190
利用課題名 / Title
高分解能電子顕微鏡による超原子集合体の構造解析,組成分析および電子状態解析
利用した実施機関 / Support Institute
物質・材料研究機構 / NIMS
機関外・機関内の利用 / External or Internal Use
内部利用(ARIM事業参画者以外)/Internal Use (by non ARIM members)
技術領域 / Technology Area
【横断技術領域 / Cross-Technology Area】(主 / Main)計測・分析/Advanced Characterization(副 / Sub)-
【重要技術領域 / Important Technology Area】(主 / Main)マテリアルの高度循環のための技術/Advanced materials recycling technologies(副 / Sub)-
キーワード / Keywords
微粒子
利用者と利用形態 / User and Support Type
利用者名(課題申請者)/ User Name (Project Applicant)
原野 幸治
所属名 / Affiliation
物質・材料研究機構
共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
緑川竹美
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes
利用形態 / Support Type
(主 / Main)機器利用/Equipment Utilization(副 / Sub)-
利用した主な設備 / Equipment Used in This Project
報告書データ / Report
概要(目的・用途・実施内容)/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)
本課題では,次元制御された超原子およびその集合体からなる材料に対して,その 原子レベル構造を高分解能電子顕微鏡イメージングにより明らかにすると共に,エ ネルギー分散X線分光法や電子エネルギー損失分光法を駆使して超原子集合体材料 の組成および電子状態を解明し,構造と機能の相関について研究する.
実験 / Experimental
セラミックス試料作製装置群を用い,AuAg合金ナノロッドを担持したTEMグリッドを作製した.この試料について,収差補正走査透過電子顕微鏡(STEM)観察およびエネルギー分散型X線分光法(EDS)を用い,加速電圧80 kVでナノロッドの観察および組成分析を行った.
結果と考察 / Results and Discussion
走査透過電子顕微鏡(STEM)によるエネルギー分散型X線分光法(EDS)を用いた元素マッピングにより,AuAg合金ナノロッドの構造について,Auナノロッドの表面にAg原子が単原子層で集積された階層的構造を有していることが明らかとなった(図1)。
図・表・数式 / Figures, Tables and Equations
図1,AuAg合金ナノロッドのHAADF-STEM像およびSTEM-EDSによる元素マッピング像.
その他・特記事項(参考文献・謝辞等) / Remarks(References and Acknowledgements)
本研究はJST CREST(課題番号:JPMJCR20B2)の支援のもと行われた.
成果発表・成果利用 / Publication and Patents
論文・プロシーディング(DOIのあるもの) / DOI (Publication and Proceedings)
-
Subarna Maity, Blue Shift of Localized Surface Plasmon Resonance of Gold Ultrathin Nanorod by Forming a Single Atomic Silver Shell via Antigalvanic Process, Nano Letters, 24, 13206-13212(2024).
DOI: 10.1021/acs.nanolett.4c03159
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
- 原野幸治,”最先端電子顕微鏡による金属クラスターのキャラクタリゼーション” 「クラスター科学の新しい潮流」シンポジウム,令和6年10月19日
特許 / Patents
特許出願件数 / Number of Patent Applications:0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents:0件