利用報告書 / User's Reports

  • 印刷する

【公開日:2025.06.10】【最終更新日:2025.02.26】

課題データ / Project Data

課題番号 / Project Issue Number

24KU0042

利用課題名 / Title

水酸化リチウムのLi分布観察

利用した実施機関 / Support Institute

九州大学 / Kyushu Univ.

機関外・機関内の利用 / External or Internal Use

外部利用/External Use

技術領域 / Technology Area

【横断技術領域 / Cross-Technology Area】(主 / Main)計測・分析/Advanced Characterization(副 / Sub)-

【重要技術領域 / Important Technology Area】(主 / Main)革新的なエネルギー変換を可能とするマテリアル/Materials enabling innovative energy conversion(副 / Sub)-

キーワード / Keywords

二次電池/ Secondary battery,集束イオンビーム/ Focused ion beam


利用者と利用形態 / User and Support Type

利用者名(課題申請者)/ User Name (Project Applicant)

佐伯 昭裕

所属名 / Affiliation

株式会社豊田自動織機

共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes

GAO HONGYE

利用形態 / Support Type

(主 / Main)機器利用/Equipment Utilization(副 / Sub)-


利用した主な設備 / Equipment Used in This Project

KU-013:キセノンプラズマ集束イオンビーム加工・走査電子顕微鏡複合機


報告書データ / Report

概要(目的・用途・実施内容)/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)

リチウムイオン電池用正極材料として水酸化リチウムの需要が増加している。
水酸化リチウムは、多くの正極材料の出発原料であり、正極活物質の質の向上のため原料の均一なLi分布が求められている。
今回、PFIB付帯のTOF-SIMS検出器でLiOH・H2O粒子表面のLi分布観察を行ったが、
表面の一部が汚染物に覆われていると考えられる結果が得られた。

実験 / Experimental

【試薬】LiOH・H2O (和光特級)
【装置】FEI製Helios5 Hydra CX(以下、PFIBと記載する)
【TOF-SIMS検出器】TOFWERK製C-TOF
【実験方法】
1.  LiOH・H2O粒子をカーボンテープで試料台に固定した。
2.  PFIB付帯のTOF-SIMS検出器でLi分布を観察した。
【TOF-SIMS分析条件】
加速電圧:30kV
ビーム電流:4nA

結果と考察 / Results and Discussion

Fig.1にLiOH・H2O粒子のSEM像を示す。
PFIB付帯のTOF-SIMS検出器でLi分布を観察した結果、粒子表面の一部からLiが検出された(Fig.2)。
表面全体からLiが検出されなかったのは、粒子表面が汚染物に覆われている可能性が考えられる。
これはTOF-SIMSの分析深さが数nmであり、表面敏感であることも起因していると考えられる。

図・表・数式 / Figures, Tables and Equations


Fig.1 LiOH・H2O粒子の表面SEM像



Fig.2 LiOH・H2O粒子の7Li+分布


その他・特記事項(参考文献・謝辞等) / Remarks(References and Acknowledgements)


成果発表・成果利用 / Publication and Patents

論文・プロシーディング(DOIのあるもの) / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents

特許出願件数 / Number of Patent Applications:0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents:0件

印刷する
PAGE TOP
スマートフォン用ページで見る