【公開日：2025.06.10】【最終更新日：2025.05.23】
課題データ / Project Data
課題番号 / Project Issue Number
24UT0297
利用課題名 / Title
新規炭素材料を用いたシリコン負極材料の開発
利用した実施機関 / Support Institute
東京大学 / Tokyo Univ.
機関外・機関内の利用 / External or Internal Use
外部利用/External Use
技術領域 / Technology Area
【横断技術領域 / Cross-Technology Area】（主 / Main）計測・分析/Advanced Characterization（副 / Sub）-
【重要技術領域 / Important Technology Area】（主 / Main）革新的なエネルギー変換を可能とするマテリアル/Materials enabling innovative energy conversion（副 / Sub）次世代ナノスケールマテリアル/Next-generation nanoscale materials
キーワード / Keywords
ナノカーボン/ Nano carbon,ナノ多孔体/ Nanoporuous material,電子顕微鏡/ Electronic microscope,二次電池/ Secondary battery,メソポーラス材料/ Mesoporous material
利用者と利用形態 / User and Support Type
利用者名（課題申請者）/ User Name (Project Applicant)
西川 銀河
所属名 / Affiliation
株式会社3DC
共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
岩村振一郎,高瀬敦
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes
森田真理
利用形態 / Support Type
（主 / Main）技術補助/Technical Assistance（副 / Sub）-
利用した主な設備 / Equipment Used in This Project
報告書データ / Report
概要（目的・用途・実施内容）/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)
シリコン炭素複合負極活物質の構造観察。STEM観察にて構造体の配置や目的サイズの炭素材料の細孔を見つけ出し、その構造と複合負極活物質の構造と組成をEDS分析にて明らかにする。
実験 / Experimental
弊社で作製した「シリコン炭素複合負極活物質」の観察のため、あらかじめTEM観察用グリッドにサンプル分散させたサンプルを作製し貴学に持ち込んだ。貴学のSTEM装置(JEM-ARM200F Thermal FE STEM SDD)を使用し、高解像度の走査型透過画像(ADF,BF)の取得を試みた。
STEM観察時にはコンタミネーション対策としてビームシャワーを実施、またプロープサイズを変えながら適切な条件出しを行った。
分散されたサンプルの中から適切な配置の構造体の集合部の形状、細孔中の原子サイト観察をしたのち、STEM-EDS分析にて各部の構成元素の確認を行った。
結果と考察 / Results and Discussion
STEM観察にて目的の高解像透過画像を取得できた。こちらの画像から20nmの炭素材料の細孔の中にSiらしきナノ粒子集合体の存在を確認できた。またSTEM-EDS分析の結果、細孔中のナノ粒子集合体からSi成分を検出、その周囲に酸化層が存在することを確認した。
図・表・数式 / Figures, Tables and Equations
Fig.1 炭素材料中の細孔内に存在するSi粒子
その他・特記事項（参考文献・謝辞等） / Remarks(References and Acknowledgements)
成果発表・成果利用 / Publication and Patents
論文・プロシーディング（DOIのあるもの） / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents
特許出願件数 / Number of Patent Applications：0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents：0件