利用報告書 / User's Reports | ARIM Japan公式ホームページ

【公開日：2025.06.10】【最終更新日：2025.05.23】

課題データ / Project Data

課題番号 / Project Issue Number

24UT0299

利用課題名 / Title

AA5083の腐食が始まる介在物の特徴について

利用した実施機関 / Support Institute

東京大学 / Tokyo Univ.

機関外・機関内の利用 / External or Internal Use

内部利用（ARIM事業参画者以外）/Internal Use (by non ARIM members)

技術領域 / Technology Area

【横断技術領域 / Cross-Technology Area】（主 / Main）計測・分析/Advanced Characterization（副 / Sub）-

【重要技術領域 / Important Technology Area】（主 / Main）次世代ナノスケールマテリアル/Next-generation nanoscale materials（副 / Sub）量子・電子制御により革新的な機能を発現するマテリアル/Materials using quantum and electronic control to perform innovative functions

キーワード / Keywords

アルミニウム基合金,電子顕微鏡/ Electronic microscope

利用者と利用形態 / User and Support Type

利用者名（課題申請者）/ User Name (Project Applicant)

上田真碧

所属名 / Affiliation

東京大学工学部マテリアル工学科

共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes

武凱歌,北村正規

ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes

福川昌宏,近藤尭之

利用形態 / Support Type

（主 / Main）機器利用/Equipment Utilization（副 / Sub）,技術補助/Technical Assistance

利用した主な設備 / Equipment Used in This Project

UT-105：高分解能走査型分析電子顕微鏡
 UT-102：高分解能走査型分析電子顕微鏡

報告書データ / Report

概要（目的・用途・実施内容）/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)

目的：AA5083における腐食の起点となる介在物の特徴を調べる。用途：腐食介在物と腐食していない介在物のデータを用いて機械学習を行い、腐食介在物を予測するモデルを作成する。実施内容：粒子解析を用いて腐食起点介在物、及びその周囲の腐食していない介在物の形状、及び元素組成を調べた。

実験 / Experimental

腐食介在物とその腐食していない介在物をJSM-7800FおよびJSM-IT800SHLで観察し、粒子解析を用いてそれらの形状と元素組成について調べた。

結果と考察 / Results and Discussion

腐食介在物は比較的大きい一方で、形に関しては腐食していない介在物との差はほとんど見られなかった。これは面積が大きい方が、周囲の腐食環境と接する面積が大きくなるため、その分腐食反応が起きる確率が高まるからと予測される。また、元素組成において、腐食介在物はFeとMnを多く含む一方で、Mgの割合が少ないことがわかった。これは標準電極電位の観点からFeとMnにおいては母材よりも電位が高いため、周囲の母材の腐食を加速させる一方で、Mgにおいては母材よりも電位が低いため、Mgが腐食し、その生成物がその部分を覆うことで腐食反応を妨げるからと推測される。