【公開日：2025.06.10】【最終更新日：2025.03.24】
課題データ / Project Data
課題番号 / Project Issue Number
24BA0041
利用課題名 / Title
SPM装置を利用したカーボン系材料の導電性評価
利用した実施機関 / Support Institute
筑波大学 / Tsukuba Univ.
機関外・機関内の利用 / External or Internal Use
外部利用/External Use
技術領域 / Technology Area
【横断技術領域 / Cross-Technology Area】（主 / Main）計測・分析/Advanced Characterization（副 / Sub）-
【重要技術領域 / Important Technology Area】（主 / Main）高度なデバイス機能の発現を可能とするマテリアル/Materials allowing high-level device functions to be performed（副 / Sub）-
キーワード / Keywords
エレクトロデバイス/ Electronic device,走査プローブ顕微鏡/ Scanning probe microscope
利用者と利用形態 / User and Support Type
利用者名（課題申請者）/ User Name (Project Applicant)
柳澤 正弘
所属名 / Affiliation
住友化学株式会社
共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
谷口 旺,伊藤 陽子
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes
岡野 彩子
利用形態 / Support Type
（主 / Main）機器利用/Equipment Utilization（副 / Sub）,技術補助/Technical Assistance
利用した主な設備 / Equipment Used in This Project
報告書データ / Report
概要（目的・用途・実施内容）/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)
材料の導電性を改良するためのカーボン系材料の開発を進めており、改良指標を得るべく、SPM装置を用いて当該材料およびそれが添加された材料の局所的な導電性を直接評価する。
実験 / Experimental
ITOを塗布したガラス基板上にカーボン系材料を分散させ、観察試料とした。Bruker社Dimension IconのPeak force TUNAモードを用いて、試料の電流像（ピーク電流値）を取得した。
結果と考察 / Results and Discussion
図に、ITOを塗布したガラス基板上の試料の電流像（ピーク電流値）を示す。試料に電流が流れる様子が明確に観察されたことから、今回検討した試料は基板のITOから（または隣接する試料を介して）良好に導通が取れることを確認できた。今後、他の各種カーボン系材料についても同様の方法で導電性を評価する予定である。
図・表・数式 / Figures, Tables and Equations
図 ITOを塗布したガラス基板上の試料の電流像
その他・特記事項（参考文献・謝辞等） / Remarks(References and Acknowledgements)
成果発表・成果利用 / Publication and Patents
論文・プロシーディング（DOIのあるもの） / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents
特許出願件数 / Number of Patent Applications：0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents：0件