【公開日：2025.06.13】【最終更新日：2025.05.16】
課題データ / Project Data
課題番号 / Project Issue Number
22NU0043
利用課題名 / Title
ナシコン型化合物接合界面の微構造評価
利用した実施機関 / Support Institute
名古屋大学 / Nagoya Univ.
機関外・機関内の利用 / External or Internal Use
外部利用/External Use
技術領域 / Technology Area
【横断技術領域 / Cross-Technology Area】（主 / Main）計測・分析/Advanced Characterization（副 / Sub）-
【重要技術領域 / Important Technology Area】（主 / Main）革新的なエネルギー変換を可能とするマテリアル/Materials enabling innovative energy conversion（副 / Sub）-
キーワード / Keywords
電子顕微鏡/Electron microscopy,集束イオンビーム/Focused ion beam,全固体電池/ All-solid battery
利用者と利用形態 / User and Support Type
利用者名（課題申請者）/ User Name (Project Applicant)
林 克郎
所属名 / Affiliation
九州大学 工学部
共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes
山本 剛久
利用形態 / Support Type
（主 / Main）技術代行/Technology Substitution（副 / Sub）-
利用した主な設備 / Equipment Used in This Project
NU-102：高分解能電子状態計測走査透過型電子顕微鏡システム
報告書データ / Report
概要（目的・用途・実施内容）/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)
ナシコン型セラミック固体電解質(Na-Zr-Si-P-O)上に形成した、ナシコン型電極活物質（Na-Ti-P-O）の微構造(緻密化度、界面形成、方位関係)と化学（SiおよびTi成分の拡散や相互拡散）を評価する。
実験 / Experimental
合成体をFIBでピックアップして、STEMで観察する
結果と考察 / Results and Discussion
ナシコン型化合物の高分解能透過型電子顕微鏡システム(JEM-200F Cold)で接合界面を観察したが、試料が厚く鮮明な画像を得ることが出来なかった。原因はFIBによる薄膜化する際、試料がダメージに弱いため薄く出来なかったことが原因と考えられ、PIPS等の別の方法で薄片化を考慮する。
図・表・数式 / Figures, Tables and Equations
その他・特記事項（参考文献・謝辞等） / Remarks(References and Acknowledgements)
成果発表・成果利用 / Publication and Patents
論文・プロシーディング（DOIのあるもの） / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents
特許出願件数 / Number of Patent Applications：0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents：0件