【公開日：2025.06.10】【最終更新日：2025.05.16】
課題データ / Project Data
課題番号 / Project Issue Number
24HK0137
利用課題名 / Title
試験片表面におけるデポ層加工
利用した実施機関 / Support Institute
北海道大学 / Hokkaido Univ.
機関外・機関内の利用 / External or Internal Use
内部利用（ARIM事業参画者以外）/Internal Use (by non ARIM members)
技術領域 / Technology Area
【横断技術領域 / Cross-Technology Area】（主 / Main）計測・分析/Advanced Characterization（副 / Sub）-
【重要技術領域 / Important Technology Area】（主 / Main）量子・電子制御により革新的な機能を発現するマテリアル/Materials using quantum and electronic control to perform innovative functions（副 / Sub）-
キーワード / Keywords
表面・界面・粒界制御/ Surface/interface/grain boundary control,集束イオンビーム/ Focused ion beam
利用者と利用形態 / User and Support Type
利用者名（課題申請者）/ User Name (Project Applicant)
薛 高格
所属名 / Affiliation
北海道大学・工学研究院・機械宇宙航空工学
共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
舩木 優大
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes
利用形態 / Support Type
（主 / Main）機器利用/Equipment Utilization（副 / Sub）,技術代行/Technology Substitution
利用した主な設備 / Equipment Used in This Project
報告書データ / Report
概要（目的・用途・実施内容）/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)
目的：試験片表面におけるデポ層加工用途：SPring-8のmultiscale X-ray CT及びDCT実験を実施するにあたり、試験片と撮影座標を同定する必要があり、試験片表面にデポ層を参照物として加工
実験 / Experimental
実施内容：長さ14mm，平行部直径0.7 mmの疲労試験片にFIBでカーボンdepoを貼り付ける
結果と考察 / Results and Discussion
SPring-8のmultiscale X-ray CT及びDCT実験を実施するにあたり、試験片と撮影座標を同定する必要があり、試験片表面にデポ層を参照物として加工した。長さ14mm，平行部直径0.7 mmのチタン製疲労試験片にFIBでカーボンデポ層を貼り付けた。異なるサイズと厚さ（10*10*1;10*20*2;20*40*2）のデポ層加工に成功した。
図・表・数式 / Figures, Tables and Equations
試験片表面のdepo層
その他・特記事項（参考文献・謝辞等） / Remarks(References and Acknowledgements)
成果発表・成果利用 / Publication and Patents
論文・プロシーディング（DOIのあるもの） / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents
特許出願件数 / Number of Patent Applications：0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents：0件