利用報告書 / User's Reports

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【公開日:2025.06.10】【最終更新日:2025.04.28】

課題データ / Project Data

課題番号 / Project Issue Number

24UT0350

利用課題名 / Title

新規エネルギーデバイスの構造評価

利用した実施機関 / Support Institute

東京大学 / Tokyo Univ.

機関外・機関内の利用 / External or Internal Use

外部利用/External Use

技術領域 / Technology Area

【横断技術領域 / Cross-Technology Area】(主 / Main)計測・分析/Advanced Characterization(副 / Sub)-

【重要技術領域 / Important Technology Area】(主 / Main)革新的なエネルギー変換を可能とするマテリアル/Materials enabling innovative energy conversion(副 / Sub)量子・電子制御により革新的な機能を発現するマテリアル/Materials using quantum and electronic control to perform innovative functions

キーワード / Keywords

表面・界面・粒界制御/ Surface/interface/grain boundary control,電子顕微鏡/ Electronic microscope,太陽電池/ Solar cell


利用者と利用形態 / User and Support Type

利用者名(課題申請者)/ User Name (Project Applicant)

野苅家 脩

所属名 / Affiliation

株式会社本田技術研究所

共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes
利用形態 / Support Type

(主 / Main)技術補助/Technical Assistance(副 / Sub)-


利用した主な設備 / Equipment Used in This Project

UT-005:原子分解能元素マッピング構造解析装置


報告書データ / Report

概要(目的・用途・実施内容)/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)

次世代エネルギーデバイス(全固体電池、太陽電池)の機能発現・改善に向けた界面性状把握を目的とし、高分解能電子顕微鏡分析による微細構造評価を行う。それに先立ち、電子顕微鏡(JEM-ARM200F Thermal FE)の操作習得を行った。

実験 / Experimental

太陽電池セルの試料薄片を持ち込み、TEM格子像観察、STEM原子カラム観察、電子線回折測定による構造評価を行った。

結果と考察 / Results and Discussion

太陽電池セルについて反射防止膜構造表面の高分解能観察を行った。その結果、TEM像においてアモルファスならびにSi単結晶由来の格子縞を視野に入れた高分解能像を取得できた。STEM像においてはSi単結晶の原子カラム像を取得できた。電子線回折の結果、STEM原子カラム像と同様に単結晶に由来する明瞭な回折パターンを取得できた。今後の展開として、元素分析 (EDS, EELS) の習得と、非暴露対応装置の習得を行う。

図・表・数式 / Figures, Tables and Equations
その他・特記事項(参考文献・謝辞等) / Remarks(References and Acknowledgements)


成果発表・成果利用 / Publication and Patents

論文・プロシーディング(DOIのあるもの) / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents

特許出願件数 / Number of Patent Applications:0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents:0件

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